半導体の容積の抵抗の試験装置23の± 2の℃の周囲温度

半導体の容積の抵抗のテスター/試験機

1. 記述

ZY6156半導体の容積測定の抵抗のテスターはワイヤーおよびケーブルのためのゴム製およびプラスチック半伝導性材料の容積抵抗を測定するために適しています。それはGB/T3048.3 「半伝導性のゴム製の容積抵抗に合致し、プラスチック」は方法をテストします。

2. 標準

GB/T3048.3

3. パフォーマンス パラメータ

DC電源:電圧0 |調節可能な5000V

現在のメートル:0 | 20 mA

現在の電極:20のmm X 70のmm

電圧電極:1.0 mm

抵抗の測定の範囲は0です| 108オーム。

標本の幅に沿う潜在的な電極の圧力:65 N/M

絶縁材の版のサイズ:80のmm * 180のmm

働く電源:AC 220V、50HZ

4. 環境条件をテストして下さい

周囲温度:23 ± 2の℃

相対湿度:（50 ± 5） %

5. ノートをテストして下さい

標本の準備

（1）同じサイズの少なくとも3つの標本は各テストのために準備されます。標本は長方形、110のmm厚さの幅長さが、50のmmおよび2つのmmまたは4つのmmです。厚さは標本の長さに沿う等しい間隔のおよそ6ポイントで測定され各ポイントの測定値と平均値の違いは超過するべきではないです（±5%）。

（2）試験片の表面はきれいなべきです。必要な場合、試験片は水と混合され、蒸留水で洗われ、そして次に空気で乾燥する粘土と穏やかにごしごし洗うことができます。ごしごし洗った場合、試験片の表面は損なわれ試験片は腐食物か膨張の効果をもたらす有機溶剤ときれいになるべきではないです。

（3）加硫させたか、または柔軟にされた標本は16時間テストに使用することができる長い時間は28日を超過するべきではないです前に少なくとものために置かれるべきです。対照テストとして使用される試験片は可能と同じ貯蔵時間を過します。

6. テストの前の前処理

（1）サンプルの2つの端は2つの現在の電極の据え付け品で締め金で止められ、絶縁板に置かれます。サンプルは2時間熱くしますで（サーモスタットの70±1）℃。

（2）、サンプル熱することの後に、現在の電極および絶縁の版は取られ、環境の下の16時間の置かれました（23±2）℃および（50±5）%の相対湿度。